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Equipos de prueba de energía fotovoltaica

Equipos de prueba de energía fotovoltaica

Equipos de confiabilidad electrónica y semiconductores

Diseñado específicamente paraEmbalaje de semiconductores, circuitos integrados, PCB/PCBA, electrónica automotriz y módulos de potencia. Califique los componentes estrictamente según los estándares JEDEC JESD22, AEC-Q100/Q200, MIL-STD-883 e IEC con datos de prueba precisos calibrados por CNAS.

Certificado CE Sistema ISO 9001 ISO 17025 (CNAS) Trazable Grado semiconductor
Solicitar propuesta de prueba personalizada

±0,5 °C

Precisión de temperatura

≤10s

Transferencia de choque térmico

100%

Calibración CNAS rastreable

3000Hz

Frecuencia máxima de vibración

Campos de aplicación clave

Ofrecemos cámaras de calificación y detección de estrés ambiental especializadas adaptadas a segmentos críticos del mercado de la electrónica.

Electrónica automotriz

Diseñado para la validación de choque térmico, vibración y estrés por humedad de conformidad con los estándares AEC-Q100 / AEC-Q200.

Embalaje de semiconductores y circuitos integrados

Cámaras HAST, PCT y almacenamiento a alta temperatura (HTSL) para pruebas de sensibilidad a la humedad en microelectrónica.

Aeroespacial y Defensa

Choque térmico extremo y sistemas ambientales combinados diseñados para rigurosos controles MIL-STD-883 y MIL-STD-810.

5G y electrónica de consumo

Cámaras de prueba de corrosión, polvo y agua para sensores, módulos de RF, conectores y dispositivos inteligentes portátiles.

Sistemas de prueba especializados

Explore nuestro equipo de prueba especializado diseñado para perfiles electrónicos de tensión y verificación de confiabilidad.

Cámaras de temperatura y humedad

JEDEC JESD22-A101 · IEC 60068

Control preciso de temperatura/humedad (-70°C ~ +180°C, 10%~98% RH) diseñado para confiabilidad de IC y pruebas de exposición al calor húmedo de PCB.

Especificaciones clave:Precisión ±0,5°C / ±2,5% HR
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Cámaras de Choque Térmico

JEDEC JESD22-A104 · MIL-STD-883

Tiempo de transferencia de cesta ≤10 segundos. Acelere la detección de fallas por tensión de expansión térmica en uniones de soldadura y microchips.

Especificaciones clave:-65°C a +150°C en segundos
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Cámaras de prueba HAST / PCT

JEDEC JESD22-A118 · JESD22-A102

Pruebas aceleradas de resistencia a la humedad para circuitos integrados empaquetados no herméticos mediante control de vapor saturado/insaturado.

Especificaciones clave:Temperatura hasta 142,9°C/0,2 MPa
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Sistemas de vibración electromagnética

IEC 60068-2-6 · MIL-STD-810

Simule tensiones mecánicas dinámicas a partir de perfiles de tránsito y operación para ensamblajes de PCB y electrónica automotriz.

Especificaciones clave:Frecuencia CC-3000 Hz
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Hornos industriales de envejecimiento de precisión

JESD22-A103 · Almacenamiento a alta temperatura

Cámaras de almacenamiento térmico y horneado de alta temperatura diseñadas para el curado de obleas de semiconductores y pruebas de quemado de circuitos integrados.

Especificaciones clave:Máx. +300°C / Purga de nitrógeno
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Cámaras de corrosión por niebla salina

ISO 9227 · IEC 60068-2-11

Evalúa la resistencia a la oxidación y la protección contra la corrosión de revestimientos metálicos, componentes electrónicos y hardware automotriz.

Especificaciones clave:Atomización NSS / AASS / CASS
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Estándares de prueba internacionales compatibles

Precisión de datos garantizada que garantiza auditorías fluidas de proveedores de nivel 1 automotriz y fabricantes de equipos originales (OEM) de tecnología global.

JEDEC JESD22
AEC-Q100/Q200
MIL-STD-883
Serie IEC 60068
ISO 16750
IPC-TM-650

Proporciona cámaras de pruebas ambientales de alta precisión y soluciones calibradas por CNAS para líderes mundiales en electrónica y semiconductores.